使用还是不使用多路复用?作者：Alan Albee、Anthony Suto，Teradyne 按照传统模式，在线测试通道分为两种基本配置。即所谓的“一对一“结构和多路复用结构。一对一测试将让驱动器/传感器电路专门服务于电路板上的单个测试点。这就需要工程师能同时开发出固定设置和测试程序，并允许获得最佳灵活性，以进行关键性修改。而“多元”针式测试仪中，单一驱动器/传感器可以用与多个通道，通常为8或16个。 生产厂家必须恒量各个结构，选定上述条件下的最佳解决方案。部分公司还将根据产品组合以及加工处理程序选出陈列两种类型的测试仪，以便使学习曲线最小化、降低瓶颈及保持最低成本值等。 一对一通道解决方案 最早的在线测试就具有一对一设计特征。测试时，与电路板直接接触的每个针都应设立各自的驱动器/传感器结合体。测试仪的各针都分配有电路板节点，理论上讲，至少测试仪应能同时驱动所有针式结构。 测试计划发展也需与固定设备设计加工同步进行。除非固定设备存在一些问题，调度测试 设计并增加测试都无需改变布线情况。就再分配针与再布线固定设备的生产期间，要执行不可避免的工程变更指令，某种程度上是由自身要求变更程度所引起的。符合计划要求的针式元件数量相对有限，该计划很早就达到了时限要求。 印刷电路板将日益复杂化，不过，目前凸显了测试仪的资源受限。新式电路通常有更多的针式元件。测试仪生产厂家开始提供额外的针式电路板，不过，与测试仪自身能力相比，这种需求的确实现可更快速的扩张。出此之外，每个驱动器/传感器成本以及测试系统引起的电耗，都使这种方法造价高昂。 为降低成本、测试仪生产厂家开始着手折中测试针性能，元件换新（比如低精度的驱动器和传感器）。不巧的是，上述折中处理仍将增加电路板缺陷不能监控的可能性，除非后来价格更昂贵，测试等级或-更糟-直到产品已经运送到客户手中。而且，这也没发生任何改变，只是持续增加了针式元件数量，该针式元件将用以最新电路板测试。 图1 显示已编程的驱动器波形图。6欧负载条件下，所测试的装置电压仅达710mV。（编程后能在空载（蓝色）和加载（红色）条件下驱动1.5V）。 考虑到下列折中和相关含义时： ●准确度低的驱动器。 为确保全载时符合DUT测试要求的装置电压精度，测试仪应选用闭环式、低阻抗驱动器，该驱动器专门设计成在线测试设计。为了节省经济，测试仪生产厂家可以采用现货供应的高输出阻抗性驱动器，但是，在这些驱动器中，DUT实际电压由驱动器获得编程电压所对应的电流值而定，测试过程中采用的电压值也将大幅度变化，具体变化取决于电网属性和状态。 图表1中的屏幕截断显示了相关驱动器波形，空载和加载条件下编程式驱动器将驱动1.5V。6欧负载条件下，DUT装置电压仅仅达到710mV。 设想一下，测试仪能告诉驱动器发出更高的输出值。只要连接同一驱动器的输出针处在关闭或高位状态，那么，该驱动器就能传递精确的电压值。如果驱动器期望发出高输出值并且输出针的驱动数值很低，那么输入针的实际电压值就更低。调试该测试并获得可靠的可重复性测试结果就更加困难。除此之外，一般情况下，测试仪不容易报告从动针的实际电压。很少有人找麻烦来将示波器附加到针件（以及每个其它可疑针件）上，以便进行电压测量。 即使测试仪能准确地驱动电路板上的针件，但是，电路板故障必将使后续情况更加复杂化。比如，开放式活性针将强制接受测试仪的撤退输出，该输出值将不再无效（恢复生效）。这样的话，不准确的电压就将造成过失性故障。 ●精度不良的传感器。 大多数在线测试设备都能定出传感器量程，即±100mV或±200mV。所以，IC输出驱动700V时，传感器必将出现600mV和800Mv或500mV和900mV之间的压力值。采用3.3V或更多的数字逻辑电路，上述差异证明是可以接受的。 另一方面，大多数装置能在3.3V电压下正常运行。低压技术也可在1.2V或更低时设定。这种级别下，传感器监控中发生“溢出”现象自然会产生不可重复的、不可靠的测试作业。除此之外，上述不确定性就表示采用两个不同测试仪（但称谓相同）进行相同的测试时，难以向已通过和不能通过的电路板提供相同混频。所以，低压部件可靠性测试要求在线测试传感器极限为±15mV。 ●有限的逻辑值。 将逻辑值分配到针式组合，就可能造成测试不安全，甚至损坏混频逻辑电路板。考虑图表2a所示的测试，图表中测试仪强加U1和U2的电压值相同。不巧的是，U2采用的驱动电压也应遵守U1的过压安全要求。测试仪配有独立的各针编程式逻辑等级，参见图2b示，该测试仪能防止过压事故，只需将电压单独分配到每个装置针内，具体依照相关技术要求，所以，这在安全运行量程内还将持续有效。
